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5120A相位噪声及艾伦方差测试仪

产品概述:

    Microsemi公司的5120A相位噪声及艾伦偏差(ADEV)测试仪,采用超低噪底,准确、高速的数模转化器,无需外部校准。全数字一体化设计,一次按键便可开始测量,几秒钟后测试数据便出现在高分辨率显示屏上。

    5120A采用了创新的互相关技术,交叉关联双通道的离散傅里叶变换,抵消了系统本身的噪声,更好的估算输入信号的噪声,从而获得更精确的测量结果。

    5120A可选择增添内部振荡器选项(-01选项),无需外部参考源,独立完成测量。


主要特征:

²相位噪声和艾伦方差同时测量
²频率范围:1-30MHz

²业界领先的精度(±1.0 dB)

²伦方差测量超过300天

²相位噪声测量接近0.1mHz

²实时显示本底噪声

²通过网口远程管理和数据采集

²可选的内部参考振荡器

²相位噪声测量低至-175 dBc / Hz

 主要优点:

²测量结果在几秒钟内显示(无需外部数据处理)

²支持不同频率的输入和参考测量

²无需测量校准(节省时间)

²最佳性价比解决方案

²易于使用的图形用户界面



技术规格:

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