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5120A和5125A相位噪声及艾伦方差测试仪

产品概述:

       Microsemi公司的5120A/5125A系列相位噪声及艾伦偏差(ADEV)测试仪,采用超低噪底,准确、高速的数模转化器,无需外部校准。全数字一体化设计,一次按键便可开始测量,几秒钟后测试数据便出现在高分辨率显示屏上。
    5120A/5125A采用了创新的互相关技术,交叉关联双通道的离散傅里叶变换,抵消了系统本身的噪声,更好的估算输入信号的噪声,从而获得更精确的测量结果。
    5120A可选择增添内部振荡器选项(-01选项),无需外部参考源,独立完成测量。5125A将测量频率范围扩展到400MHz,应对更广泛的测试、测量需求。

主要特征:

详情里小图标.png   相位噪声和艾伦方差同时测量
详情里小图标.png   频率范围:5120A:1-30MHz,5125A:1-400MHz
详情里小图标.png   支持被测信号和参考源使用不同的频率值
详情里小图标.png   无需校准,一键开始,几秒钟后实时显示数据
详情里小图标.png   艾伦方差测量超过300天
详情里小图标.png   相位噪声测量接近0.1mHz
详情里小图标.png   实时显示内部噪声
详情里小图标.png   通过网口远程管理和数据采集

技术规格:

  详情截图-5120A和5125A相位噪声及艾伦方差测试仪.jpg

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